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      什么是X射線二次發射光譜分析

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      什么是X射線二次發射光譜分析

      發布日期:2019-12-05 作者: 點擊:

        X射線熒光分析是確定物質中微量元素類型和含量的方法。 這也稱為X射線二次發射光譜分析。 它使用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子。 生成用于材料成分分析和化學狀態研究的次級特征X射線(X射線熒光)。 現代儀器由以下部分組成:X射線發生器(X射線管,高壓電源和穩定的電流穩定裝置),光譜檢測系統(分析晶體,準直儀和檢測器),計數記錄系統(脈沖輻射分析儀),校準儀,計時器,積分器,記錄儀。 不同的元素具有不同波長的特征X射線光譜,并且各譜線的熒光強度與元素濃度具有一定的關系。 可以定性和定量地分析待測元素的特征X射線譜線的波長和強度。 該方法具有譜線簡單,分析速度快,多個測量元素以及同時進行多元素分析的優點。 它是廣泛用于大氣顆粒物元素分析的三種主要分析方法之一(其他兩種方法是中子活化分析和質子熒光分析)。

      晶體分析管

        熒光,顧名思義,是在光下發出的光。  X射線熒光是被分析的樣品在X射線照射下發出的X射線。 它包含有關所分析樣品化學成分的信息。 通過分析X射線熒光來確定被測樣品中各成分含量的儀器是X射線。 熒光分析儀。 從原子物理學的知識中,我們知道化學元素的每個原子都有其自己的特定能級結構。 原子核外的電子都以自己的獨特能量在自己的固定軌道上運行。 內部電子在足夠能量的X射線照射下,原子從束縛中釋放出來,成為自由電子。 

        我們說原子是受激的并且處于受激狀態。 這時,其他外部電子將填補這個空位,即所謂的躍遷。  X射線會發出能量。 由于每個元素的碼級結構是特定的,因此在躍遷后被激發時發出的X射線的能量也特定,這稱為特征X射線。 通過測量特征X射線的能量,晶體分析管可以確定相應元素的存在,特征X射線的強度(或X射線光子數)表示元素的含量。 量子力學知識告訴我們,X射線具有波粒對偶性,可以被視為粒子和電磁波。 當視為粒子時的能量與當視為電磁波時的波長之間存在一一對應的關系。顯然,無論是測量能量還是波長,都可以實現對相應元素的分析,效果是完全一樣的。

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      關鍵詞:晶體分析管

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