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      熒光分析X射線管的光譜校正曲線法

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      熒光分析X射線管的光譜校正曲線法

      發布日期:2022-03-08 作者: 點擊:

        X射線熒光光譜校正曲線法要求標準樣和樣品的物理化學形態、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下,分折線強度并不隨著其濃度的增加而增加,需對基體進行校正后,方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結果,以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標,I為縱坐標?,F在則通過計算機用Z小二乘法進行計算,X射線熒光光譜曲線上各數據點與曲線上相對應的數據偏差的平方和Z小。

        熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測定痕量元素時,若背景能準確扣除,也可強制通過零點,以便獲得更準確的結果。其數學表達式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距,D的單位是濃度,E的倒數是方法的靈敏度C,是待測元素i的濃度i,是待測元素的強度,校正曲線以直線表示為好,也可用二次曲線,只是用二次曲線需要較多的標樣,且可能存在危險,故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時,我們通常希望曲線的斜率陡一些,這樣在濃度變化很小時,分析線強度變化很大。

        熒光分析曲線斜率的大小與基體的質量吸收系數有關,也就是說,質量吸收系數越大,斜率越小。同時斜率與特征譜線的波長有關。小于10nm的短波范圍內,斜率居中大于30nm的長波范圍內,斜率低在上述兩者之間時斜率低,背景也低,因此分析方法靈敏。若校正曲線通過零點,原則上只要一個標準樣便可確定校正曲線。對于濃度范圍很大的試樣,則至少需要三個以上的標準樣品。

      校正曲線法通常適用于下述類型樣品

      (1)塑料、碳氫化合物及其他輕基體中的少量和痕量元素

      (2)樣品經熔融、溶解和稀釋以后試樣中的次要成分

      (3)樣品中痕量元素

      (4)附著在濾紙、聚酯膜上的少量樣品

      (5)薄膜。

      熒光分析X射線管

      本文網址:http://www.redkiltint.com/news/639.html

      關鍵詞:熒光分析X射線管

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